泰勒霍普森粗糙度儀TAYLOR

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測試參數：

三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個濾波器：2CR、Gaussian

評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程：17.5mm

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測試速度：

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測試參數：

執行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標準可以測量12個參數： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標準可以測量14個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測試單位：um/uin

SURTRONIC S116粗糙度儀

適用于車間、工業和檢測室的應用，同包括精密軸承、汽車和航空航天工程等行業的生產商們有著緊密的合作關系，泰勒霍普森專注于研發對于現今精密行業中關鍵的質量控制技術。新型Surtronic S-100系列儀器能夠為您的粗糙度測量需求提供多種解決方案，包括多樣化的系統和應用相關配件，并且能夠針對特殊應用的配件定制工裝。