菲希爾X射線測厚儀Fischer X-RAY

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237菲希爾X射線測厚儀典型的應用領域有：

•  分析小于 的超薄鍍層

•  測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

•  測定復雜的多鍍層系統

•  全自動測量，如在質量控制領域

•  分析焊錫中鉛含量

•  配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量

菲希爾X射線測厚儀參數：

1、通用規格

設計用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀 用來測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。

形式設計：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調的軸馬達驅動的可更換的準直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點（類）定位測量點。

測量方向：從上到下。

2、X 射線源

X射線管：帶鈹窗口的微聚焦管

高壓、三檔：10、30、50KV

孔徑（準直器） ：4個可切換準直器：圓形；長方形、可按要求定制其它規格。

基本濾片：3 種可切換的基本濾片（標準配置：鎳，鋁，無）

測量點：取決于測量距離及準直器大?。辉谝曨l窗口中顯示實際的測量點大小。*小的測量點大小約為0.15mm直徑。

測量距離：0-80mm、在不同距離使用磚利 簡化方法的距離補償測量。如果是特定的應用程序或更高的校準精度要求，校正是必要的。